图书介绍

可靠性与环境试验参考资料 12 日本第10届可靠性与维护性会议论文集选编2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载

电子产品可靠性与环境试验编辑部编辑著
出版社：电子产品可靠性与环境试验编辑部
ISBN：
出版时间：1983
标注页数：106页
文件大小：9MB
文件页数：110页
主题词：

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图书目录

元件可靠性1

关于磁带寿命的若干问题&铃木喜久、贝塜隆则等1

高辉度数字显示管的寿命试验&矢杉井久雄等4

印刷板（金属化孔）的可靠性&田代通也6

电视机接插件的可靠性评价方法&松尾干也等10

功率晶体管的可靠性研究&岛冈诚等13

功率晶体管焊接层的热强度分析&保川彰夫等17

发光二极管的老化特性&蟹江寿等22

薄氧化膜的老化击穿失效&沢田功吉付26

薄膜载体器件的可靠性研究&时早征男等31

可靠性活动与管理36

三洋电机公司可靠性数据库系统的开发及运用&长谷川肇等36

用户的软件可靠性管理&三觜武42

在外协作厂家生产的电子设备的可靠性管理&辰段政照、筱原广繁46

工厂电子测试设备可靠性与维护性的改进&桥本利夫等50

与早期质量有关的用户动向的掌握及利用&吉田隆裕等57

组合环境试验方法&弓削恒等60

可靠性设计64

MIL-HDBK-217C之主要修改点&保田襄似64

树脂封装功率集成电路PN结-封壳热阻与封壳-大气热阻及总热阻间的关系&须藤保等69

用微型计算机进行威布尔型失效分析&益田昭彦月原保久73

彩电可靠性数据的收集与分析&上田重博米田昌司78

不完整数据分析方法的研究&野中保雄82

可靠性试验和故障分析85

塑料封装半导体器件的耐湿可靠性&戒能俊邦等85

如何定量掌握用户对可靠性试验的要求&三浦勇等89

电子计算机中集成电路的失效分析&石山一雄等91

16K EPROM的可靠性比较试验&岩崎二三男等94

威布尔分布元器件的最佳替换方式&掘笼教夫101