图书介绍

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测试技术
  • 彭俊彬主编;岳建海副主编 著
  • 出版社: 北京:北京交通大学出版社
  • ISBN:9787512113244
  • 出版时间:2013
  • 标注页数:169页
  • 文件大小:45MB
  • 文件页数:179页
  • 主题词:测试技术-高等学校-教材

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图书目录

绪论1

第1章 信号描述5

1.1 信号分类及描述5

1.2 周期信号的频谱9

1.3 瞬变非周期信号的频谱14

复习参考题23

第2章 测试装置的基本特性24

2.1 概述24

2.2 测试系统的静态特性27

2.3 测试系统的动态特性29

2.4 测试系统的响应特性37

2.5 测试系统不失真测量的条件39

2.6 测试系统动态特性的测量41

2.7 测试系统的负载效应44

2.8 测试系统的抗干扰问题45

复习参考题47

第3章 常用传感器48

3.1 传感器的基本概念48

3.2 电阻、电容和电感式传感器49

3.3 磁电、压电和热电式传感器60

3.4 半导体传感器71

3.5 传感器的选用原则79

复习参考题81

第4章 信号的调理与记录83

4.1 电桥83

4.2 调制与解调88

4.3 滤波器94

4.4 信号的放大99

4.5 信号的显示与记录102

复习参考题105

第5章 信号的分析与处理107

5.1 数字信号处理概述107

5.2 信号的相关分析及应用113

5.3 信号的功率谱分析及应用121

5.4 D/A与A/D转换126

复习参考题131

第6章 测试技术的工程应用132

6.1 应变、应力的测量132

6.2 力的测量137

6.3 转矩的测量143

6.4 温度的测量145

复习参考题152

第7章 计算机测试系统与虚拟仪器153

7.1 自动测试系统153

7.2 智能仪器157

7.3 虚拟仪器159

复习参考题163

附录A 模拟试题164

A1 模拟试题一164

A2 模拟试题二166

参考文献169

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